离子减薄仪

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离子减薄仪

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产品型号：	IV
原产地：	欧洲

指数10

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工商注册信息：已通过认证
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详细信息

技术参数
离子能量：0.1~10keV；
离子束减薄样品角度：0~90度；
样品最大减薄速率：350um/h；

主要特点
在不同的激发电压下，样品双面同时减薄；
超大TEM样品制备：100um*100um；
可同时实现样品减薄和抛光；
支持升级低能离子源；
支持所有的离子源；
支持液氮冷却台；

仪器介绍
来自欧洲顶级SEM、TEM、XTEM及FIB样品制备系统；可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。

常规的离子减薄仪离子源能量较大，易破坏样品的微观结构，引发相变，而且很难看到材料真实的自然状态下的纳米结构；

因此，采用高能/低能综合离子源，不但可以高能快速减薄样品，而且低能离子减薄有效避免样品的微观结构被损伤的基础上，大大提高了电镜图片的清晰度，进而可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。

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